Endüstri için ZEISS Taramalı Elektron Mikroskopları:

Endüstri için ZEISS Taramalı Elektron Mikroskopları:

Görünmeyeni ortaya çıkarın.

Endüstri için ZEISS SEM'leri: Taramalı elektron mikroskobu portföyü

ZEISS, taramalı elektron mikroskopları ile endüstriyel kalite güvencesi ve hata analizi alanındaki çeşitli uygulamalar için geniş bir sistem portföyü sunmaktadır.

Daha fazla bilgi, daha fazla olanak. Endüstri için SEM Analizleri.

Mükemmel alan derinliği ve daha yüksek çözünürlük sunan taramalı elektron mikroskobu (SEM), son derece hassas bileşen mikroyapılarının analizi için kullanılır. Bu yöntem, numune yüzeyinin çok yüksek büyütme oranına sahip görüntülerini oluşturur. SEM üzerinde ayrıca malzemelerin kimyasal element bileşiminin belirlenmesini sağlayan enerji dağılımlı X-ray spektroskopisi (EDS) gerçekleştirilebilir.

İhtiyaçlarınızı karşılayacak çözümler

ZEISS taramalı elektron mikroskobu (SEM) serisi

ZEISS EVO Ailesi Standart giriş seviyesi sistem
ZEISS Sigma Ailesi Gelişmiş sistem
ZEISS GeminiSEM Ailesi Üst Düzey Sistem
ZEISS Crossbeam Ailesi
ZEISS Crossbeam Ailesi 3D Özellikli Üst Düzey Sistem

Çözünürlük

1 kV'da: 9 nm

1 kV'da: 1,3 nm

1 kV'da: 0,8 nm

1 kV'da: 1,4 nm

Sistem

Kullanımı kolay yazılım seçenekleri ile zorlu analitik EDS iş akışları için geliştirilmiş geleneksel taramalı elektron mikroskobu

Yüksek kaliteli görüntüleme ve gelişmiş analitik mikroskopi için alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu
 

Nanometre altı görüntüleme, analiz ve numune esnekliği ile ilgili en zorlu gereksinimler için alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu
 

Yüksek verimli 3D analiz ve numune hazırlama için alan emisyonlu taramalı elektron mikroskobu ve femtosaniye lazer kullanımı
 

Avantajlar

  • Rutin uygulamaları yerine getirir
  • EDS rutininizde en iyi malzeme geri bildirimi için çift kondansatör
  • Esnek, güçlü ve uygun fiyatlı
  • Malzeme analizi için masa üstü SEM'lere akıllı alternatif
  • Kısa sonuç alma süresi ve yüksek verim
  • Her numuneden doğru ve tekrarlanabilir sonuçlar
  • Hızlı ve kolay deney kurulumu
  • ZEISS Gemini teknolojisi
  • Net görüntüler için esnek algılama
  • Sigma 560, sınıfının en iyi EDS geometrisine sahiptir
  • En yüksek görüntü kalitesi ve çok yönlülük
  • Gelişmiş görüntüleme modları
  • Yüksek verimli tespit, olağanüstü analizler
  • ZEISS Gemini teknolojisi
  • En iyi kapsama için çok çeşitli dedektörler
     
  • FIB-SEM analizinde en iyi 3D çözünürlük
  • İki ışın, iyonlar ve elektronlar
  • Örnek hazırlama aracı
  • Ek femtosaniye lazerden yararlanın
  • EDS, EBSD, WDS, SIMS, artı istek üzerine daha fazlası
  • Üçüncü boyutta hedefli analiz yoluyla numune içgörülerini en üst düzeye çıkarın
     

ZEISS SEM'leri: Endüstri için mikroskopi çözümleri

  • ZEISS Gemini optiklerinin evrimi

  • Hızlı 3D hata analizi. ZEISS'tan korelatif iş akışı çözümü.

  • Sadece dört adımda çapraz ölçekli malzeme analizi.

  • SEM'de yerelleştirme ve gezinme artık daha kolay: ZEISS ZEN Connect

  • ZEISS Xradia, ZEISS Crossbeam, ZEISS Orion ile katı hal bataryaların hazırlanması ve analizi

  • Endüstri için ZEISS Gemini teknolojisi. ZEISS her uygulama için doğru çözümü sunar. Gemini teknolojisinin gelişimini ve faydalarını keşfetmek için videoyu izleyin.
    ZEISS Gemini optiklerinin evrimi
  • Korelatif iş akışı çözümümüz hakkındaki videoyu izleyin! ZEISS Çözümleri ile verilerinizi farklı teknolojilerde kullanmanın ne kadar kolay olduğunu ve nasıl güvenilir ve verimli sonuçlar elde edebileceğinizi öğrenin.
    Hızlı 3D hata analizi. ZEISS'tan korelatif iş akışı çözümü.
  • Makroskopik yapılarınız neye benziyor? Büyük bir numunede ilgi bölgelerini nasıl bulabilirsiniz? Bu ilgi bölgelerine (ROI) nasıl erişebilirsiniz? Bunlar üzerinde nasıl ek analiz yapabilirsiniz?
    Sadece dört adımda çapraz ölçekli malzeme analizi.
  • Aynı numunenin farklı mikroskopi görüntülerini ve verilerini tek bir yerde düzenleyin, görselleştirin ve bağlamsallaştırın. Farklı ölçeklerdeki görüntüler arasındaki korelasyon çalışma alanında üst üste bindirilebilir ve kolay gezinme için kullanılabilir.
    SEM'de yerelleştirme ve gezinme artık daha kolay: ZEISS ZEN Connect
  • Sağlam numuneleri muayene ederek bataryaların kalitesini ve hizmet ömrünü etkileyen bileşim değişikliklerini belirlemek mümkündür. Endüstriye yönelik ZEISS mikroskopi çözümleri, tahribatsız ve yüksek çözünürlüklü 3D analizlerin yanı sıra kalite denetimi için önemli olan korelatif analizler de sunar.
    ZEISS Xradia, ZEISS Crossbeam, ZEISS Orion ile katı hal bataryaların hazırlanması ve analizi

ZEISS Verimli Gezinme

ZEISS ZEN core, bağlantılı mikroskopi ve görüntü analizi için yazılım paketinizdir. Yazılım size bir bakışta eksiksiz bir genel bakış sunar: Tüm mikroskopi sonuçları için tek bir kullanıcı arayüzü sağlar... Otomatikleştirilmiş iş akışları tek bir düğmeyle hızlı ve güvenilir sonuçlar sağlar.

  • Korelatif mikroskopi üzerine spot ışığı.

    ZEISS ZEN Connect.

    Çok modlu verileri birbirine bağlamak için farklı mikroskopi görüntülerini tek bir yerde düzenleyin ve görselleştirin. Bu açık platform, üçüncü taraf teknoloji kullanılırken bile genel bakıştan gelişmiş görüntülemeye hızlı bir şekilde geçmenizi sağlar. ZEN Connect ile sadece tüm görüntü verilerini hizalamak, üst üste bindirmek ve bağlamsallaştırmakla kalmazsınız. Bu, numuneleri ve görüntü verilerini farklı ışık ve elektron mikroskopları arasında kolayca aktarmanıza olanak tanır.

    ZEISS ZEN Connect aşağıdakilere imkan tanır:
    bağlantılı bir haritada farklı mikroskop türlerinden (örn. ışık ve elektron mikroskopları) korelatif görüntü sunumu. Bu, batarya hücrelerinde olduğu gibi büyük genel görüntülerin ayrıntılı olarak incelenmesinde oldukça faydalıdır. Modül, EDS sonuçları gibi görüntü dışı verilerin içe aktarılmasına ve korelasyonuna olanak tanır. Önde gelen EDS sistemi üreticileri ile uyumludur.

  • Korelatif mikroskopi üzerine spot ışığı.

    ZEISS ZEN Connect.

    ZEN Connect size minimum çaba ile maksimum ilgili veri sağlar: Tüm ilgi bölgeleri tek seferlik bir hizalamadan sonra otomatik olarak alınır ve bağlam içinde görüntülenir. Ayrıca birden fazla modaliteden gelen verileri de düzenleyebilirsiniz. ZEN Connect ile elde edilen tüm görüntüler iyi yapılandırılmış bir veritabanına kaydedilebilir. Her görüntü dosyasına otomatik olarak ayrı ayrı önceden tanımlanmış bir ad verilir. Her bir üst üste bindirme görüntüsü ve ona bağlı veri setini bulmak kolaydır, kullanıcılar yeni filtre işlevi aracılığıyla mikroskop türüne göre arama yapabilir.

    Görselleştirilmiş veri toplama:
    raporlar ve açıklamalar (pdf, pptx, xlsx, docx, vb.) gibi görüntü dışı verilerin içe aktarılmasını ve eklenmesini destekler.

    Kolay gezinme:
    herhangi bir ROI'yi tam görüntü bindirmesinde incelemek veya yeniden değerlendirmek için genel bakış görüntüsüne tıklayın.

  • Daha zeki. Daha fazla zaman tasarrufu.

    ZEISS ZEN Intellesis.

    ZEISS ZEN Intellesis ile uzman olmayan kullanıcılar bile piksel sınıflandırma veya derin öğrenme gibi yerleşik makine öğrenimi tekniklerini kullanarak güvenilir ve tekrarlanabilir segmentasyon sonuçları elde edebilir. Resminizi yükleyin, sınıflarınızı tanımlayın, pikselleri etiketleyin, modelinizi eğitin ve segmentasyonu gerçekleştirin, hepsi bu kadar.

    Yazılımın yüzlerce görüntüden oluşan yığınları otomatik olarak segmentlere ayırabilmesi için yalnızca birkaç görüntü üzerinde bir kez eğitilmesi gerekir. Bu sadece zaman kazandırmakla kalmaz, aynı zamanda kullanıcı kaynaklı sapmaların kapsamını da azaltır. Çok sayıda benzer görüntü üzerinde gerçekleştirilen zaman alıcı tüm segmentasyon adımları, güçlü makine öğrenimi algoritmaları tarafından yürütülür.

    ZEISS ZEN Intellesis
    makine öğrenimi ile parçacık tanımlamayı mümkün kılar ve parçacık tanımlama, görüntü segmentasyonunu öğrenme ve nesne sınıflandırması için daha yüksek doğruluk sağlar.

    Intellesis Nesne Sınıflandırması
    segmentlere ayrılmış partikülleri ek olarak sınıflandırmak ve bunları alt türlerine ayırmak için kullanılır. Bu bilgi daha sonra tür başına partikül sayısını belirlemek için kullanılabilir.

  • Daha zeki. Daha fazla zaman tasarrufu.

    ZEISS ZEN Intellesis.

    ZEN Intellesis, geniş alan, süper çözünürlük, floresan, etiketsiz, konfokal, ışık tabakası, elektron ve X-ray mikroskobu dahil olmak üzere çok sayıda farklı görüntüleme kaynağından gelen çok boyutlu görüntülerin kolay segmentasyonunu destekler. ZEN'in değerlendirme modülleri daha sonra endüstriyel standartlara göre otomatik rapor oluşturma ve ölçme olanağı sağlar.

    Segmentasyon sonrası türe göre sınıflandırma söz konusu olduğunda, ZEN Intellesis yenilikçi bir yaklaşım izlemektedir. Nesne sınıflandırma modeli, tipik bir makine öğrenimi çözümünde olduğu gibi tek tek piksellere bakmak yerine, nesneleri otomatik olarak ayırt etmek ve sınıflandırmak için nesne başına 50'den fazla ölçülen özellikten yararlanır. Tablo biçimindeki verilere dayalı olarak, bu sınıflandırma işlemi, özel olarak eğitilmiş derin sinir ağları tarafından gerçekleştirilen segmentasyondan çok daha hızlıdır.

    Katman kalınlığı için örnek:
    CIGS güneş pili katmanlarının FIB kesit bindirmesi: Crossbeam 550 InLens dedektöründen (sağda) ve ZEN Intellesis makine öğrenimi segmentasyonundan (solda) sonra sonuç.

Otomatik segmentasyon ve iki fazlı çelikte ikinci fazın bileşenlerini daha iyi analiz etmek için ZEISS ZEN Intellesis'i kullanıyoruz. Yazılım, malzemeleri karakterize etme şeklimizi değiştirerek daha hızlı ve daha güvenilir sonuçlar elde etmemizi sağlıyor.

ArcelorMittal Tubarão ekibi SEM broşüründe müşteri hikayesi hakkında daha fazla bilgi edinin.

İndir

  • ZEISS SEM Brochure A4 EN PDF

    22 MB
  • ZEISS IQS, Mic and TCA, Success Story, INNIO Group, EN, PDF

    16 MB
  • ZEISS IQS, Customer story, SPC, Mic, Metallog, EN, Flyer

    17 MB


Bize Ulaşın

Ürünlerimizi veya hizmetlerimizi daha yakından incelemek ister misiniz? Size daha fazla bilgi veya canlı bir demo sunmaktan memnuniyet duyarız – uzaktan ya da yüz yüze.

Daha fazla bilgiye ihtiyacınız var mı?

Bizimle iletişime geçin. Uzmanlarımız size geri dönecektir.

Form yükleniyor...

/ 4
Sonraki Adım:
  • İlgi Talebi
  • Kişisel Bilgiler
  • Şirket Bilgileri

ZEISS'ta veri işleme hakkında daha fazla bilgi almak istiyorsanız, lütfen veri gizliliği bildirimimizi inceleyin.