Optik 3D sensör sistemleri için yazılım

ZEISS colin3D

İndirme veya sipariş bilgisi

Bizimle iletişime geçin

ZEISS colin3D

Önemli noktalar

  • ZEISS Optotechnik'in optik 3D sensör sistemleri ile mükemmel şekilde uyumludur
  • Hızlı üçgen ağ oluşturma
  • Rapor işleviyle yüzey karşılaştırma
  • Sezgisel ağ işleme
  • Kalibrasyon dokümantasyonu
  • Sistem doğruluğunu izleme
  • Akıllı kalite kriterleri ile otomatik olarak yüksek kaliteyle ölçülen veri  
Yüksek kaliteli veri azaltma kullanarak hızlı üçgen şeklinde ağ

Yüksek kaliteli veri azaltma kullanarak hızlı üçgen şeklinde ağ

Yenilikçi işlevsellik

ZEISS colin3D yazılım platformu COMET, COMET Fotogrametri ve T-SCAN sensör sistemlerini ideal olarak tamamlayacak şekilde tasarlanmıştır. Bu program bağımsız olarak görüntüleri birleştirmek (eşleştirmek) için ideal stratejileri tanımlar; tümüyle yeniden tasarlanmış, proje odaklı kullanıcı arayüzü kullanarak size ideal sonucu sunar. CAD entegrasyonu sayesinde, yakalanması gereken bileşen yüzey alanları hakkında sürekli geri bildirim alırsınız.

Maksimum performans

64-bit işletim sistemleri ile ekran kartı ve çoklu işlemci sistemleri gibi donanımlar üzerinde uzun yılları kapsayan programlama deneyimi sayesinde, ZEISS colin3D'nin yeni algoritması maksimum performans ve veri kalitesi sunar.

İdeal kullanıcı desteği

ZEISS'in T-SCAN sistemini hızlı ve verimli bir şekilde belirleyerek, ölçüm alanı ve tarayıcı ZEISS colin3D'de opsiyonel olarak gösterilebilir, böylece ideal izleyici konumunun belirlenmesini sağlar. COMETrotary ve COMETdual döner tablalarını kullanarak uygulamalar için programların ölçülmesi kolayca oluşturulup yürütülebilir. Bir ölçüm sırasındaki tüm ölçümler kalite kontrollerine tabi tutulur ve gerekli olması durumunda otomatik olarak tekrar edilir.

Basit solmuş karşılaştırma

Basit solmuş karşılaştırma

Veri analizi fonksiyonları

Kalite güvence uygulamaları için, basit en uyumlu hizalama kullanılarak tarama verileri CAD modeli yüzeyinde karşılaştırılabilir. ZEISS colin3D, renk gradyanlarına ve sabit değerlere sahip basit sahte renk ekranına sahiptir. Sapmaları daha hassas analiz edebilmek için, kullanıcılar istenmesi halinde yüzeye föy yerleştirebilir. Ölçüm sonuçlarının belgelenmesi için raporlar kolayca ve hızlıca oluşturulup yönetilir.