Taramalı Elektron & İyon Mikroskopları

Bilimsel ve Rutin Araştırmalar için

Taramalı Elektron Mikroskopları

(TEM)

Taramalı Elektron Mikroskopları (SEM), bir numuneyi elektron ışını ile tarar ve numunelerin topografisi ve kompozisyonu hakkında bilgi alarak görüntüler elde eder.

CSEM'ler (termik elektron kaynağı ile konvansiyonel SEM'ler) ve FE-SEM'ler (alan emisyonlu elektron kaynağı ile alan emisyonlu SEM'ler) ile ZEISS yüksek çözünürlüklü görüntü ve mükemmel malzeme kontrastı sunar.

  • Yüksek çözünürlüklü yüzeye duyarlı bilgi ve materyal kontrastı.
  • Nanoteknoloji, malzeme araştırmaları, yaşam bilimleri, yarı iletken, hammadde ve endüstride yayın şekilde kullanılır.

Sistemler

Değişken basınç modunda bile nanometre altı çözünürlük ve yüksek verimli algılama ile zahmetsiz görüntüleme.


                                             Detaylı bilgi

Alan emisyonu SEM (FE-SEM) teknolojisini gelişmiş analizlerle birleştirin ve Gemini elektron optiklerinden faydalanın.


                                             Detaylı bilgi

Sezgisel Operasyon, Rutin Araştırmalar ve Araştırma Uygulamaları için Modüler SEM Platformu.


                                             Detaylı bilgi

91 paralel elektron ışınına kadar görüntüleme hızı. Santimetre boyutlarındaki örnekler için nanometre çözünürlüğünde ölçek.


                                             Detaylı bilgi

Avantajlı imkanlarla, performans garantili.


                                             Detaylı bilgi

Çözümler

Reçineye gömülü hücre ve doku örneklerinizi tekrar tekrar kesin ve görüntüleyin.


                       Detaylı bilgi

Mineralojik sistemler - otomatik mineraloji için özel çözümler.
 


                       Detaylı bilgi

Parçacık büyüklüğü, şekli ve kimyasal bileşimi otomatik olarak gözlemleyin, ölçün, sınıflandırın ve kaydedin.

 


                       Detaylı bilgi

Odaklanmış İyon Demeti Taramalı Elektron Mikroskobu

(FIB-SEM)

Nanotomografi ve nanofabrikasyon uygulamalarını hızlandırın. ZEISS FIB-SEM'ler, yaşam bilimlerindeki ve endüstrideki malzemeler için nanoskopik ölçekte işleme ve numune hazırlamanıza izin verir.

  • 3D görüntüleme, analiz ve malzeme işlemeyi birleştirin
  • Örnek hazırlarken yeni nesil FIB'in avantajlarından faydalanın
  • Gerçek zamanlı etkileşimin tadını çıkarın ve aynı anda görüntüleme ve frezeleme yapın

Tomografide iyon demeti frezeleme veya malzemenin kaldırılmasını hızlandırın ve FIB-SEM analizinizde en iyi 3D çözünürlüğü elde edin.


                                             Detaylı bilgi

Crossbeam ve Merlin platformlarına dayanan size özel çözümlerimiz ile çalışmalarınıza ilham verelim.


                                             Detaylı bilgi

Çoklu İyon Demeti Mikroskobu

Your 3-in-1 Ion Microscope for Sub-10 nm Nanostructuring

ORION NanoFab Helyum İyon Mikroskobu
Dünyada galyum, neon ve helyum iyon ışınlarını kullanan tek sistem.

  • 10nm alt nanoyapıları hız ve hassasiyetle üretin
  • Galyum, neon ve helyum ışınları arasında benzersizce geçiş yapın
  • Nanometre altı çözünürlük, yüksek yüzey hassasiyeti ve alan derinliği ile görüntüleme

ORION NanoFab

Yüksek Çözünürlüklü Görüntüleme ve 10nm Altı Üretim Sistemi

Yüklü örneklerin ve nanofabrikasyon uygulamalarının 10 nanometre altı görüntülenmesinde sınırları aşın.

Daha fazla

Güncellemeler

Süreçleriniz için Faydaları Hakkında Daha Fazla Bilgi Edinin