ZEISS O-INSPECT
Her konuda uzman
ZEISS'ın ürettiği çok sensörlü O-INSPECT ölçüm makineleri her özelliği optimum biçimde, görsel olarak veya temas ederek ölçmenizi sağlamaktadır. Önemli bir özellik: O-INSPECT, 18-30°C sıcaklık aralığında ISO standartlarına uygun, güvenilir 3D hassasiyeti sunmaktadır. Öne çıkan ek bir özellik: CALYPSO yazılımı yalnızca kolayca sonuç sağlamamakta, aynı zamanda hataların sebeplerinin tespitini ve türlerinin saptanmasını kolaylaştırmaktadır.
O-INSPECT 322
Ölçüm aralığı [dm] 3/2/2
Özellikler
- telesentrik zoom'lu objektif Discovery
- adaptif ışıklandırma sistemi
- tarama sensörü VAST XXT
- prob rafı
- kalibrasyon küresi
O-INSPECT 543
Ölçüm aralığı [dm] 5/4/3
Seçenekler
- beyaz ışık mesafe sensörü
- döner tabla
- cam palet ve delikli ızgara palete sahip yükleme sistemi
- kalibrasyon paleti
O-INSPECT 863
Ölçüm aralığı [dm] 8/6/3
Software
- CALYPSO
Büyük görsel alan, yüksek görüntü çözünürlüğü - zoom'lu objektif ZEISS Discovery
ZEISS Discovery.V12, ZEISS Mikroskop departmanından gelmektedir. Standart objektiflere kıyasla 4 kat daha fazla görsel olan ve periferik bölgelerde de çok iyi resim çözünürlüğü sunmaktadır.
Sonuç: daha düşük ölçüm süresi ve mükemmel hassasiyet.
Daha fazla ölçüm noktası, daha fazla bilgi - tarama sensörü ZEISS VAST XXT
ZEISS VAST XXT ile, O-INSPECT esnek, hızlı ve yüksek oranda hassas bir temas sensörüyle donatılmaktadır. Bu tarama sensörü, şekil ve lokasyon ile ilgili bilgilendirici ifadelere tek bir geçişte ulaşmak için önemli miktarda noktayı kaydetmektedir. Bu makine sınıfı için önemli bir özellik. ZEISS O-INSPECT, diğer çok sensörlü ölçüm makinelerinin yalnızca göreceli olarak yüksek problama kuvvetleriyle tek noktalı ölçümlere izin verdiği bölgelerde, milinewton problama kuvvetlerine sahip taramalara izin vermektedir. Bu, ince duvarlı parçaların doğru 3D ölçümünün yapılmasını sağlamaktadır.
Hızlı ve hassas. Görmek ve anlamak - ZEISS CALYPSO ile
ZEISS CALYPSO ile birlikte, ZEISS O-INSPECT görüntüleme alanında tamamen yeni boyutlar açmaktadır. Mevcut durum, nominal ekran ve sapmaları bir arada görebilirsiniz, bu da özellikle ölçüm sonuçlarının uygun biçimde kategorize edilmesini ve yorumlanmasını kolaylaştırmaktadır.